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efan
LV.1
雪坤杰宇
时间:2026-09-08
目前不能直接认定为芯片本身的温度缺陷，降频后恢复正常，可能涉及内部Flash访问时序，也可能是供电、时钟或外部存储器时序裕量不足
建议先确认芯片具体批次和丝印、VOS电压档位、主频及各总线分频、内部Flash等待周期配置，检查是否满足对应工作频率和电压条件，同时对照官方最新勘误手册
可以做一个最小化测试程序，在不同温度和频率下反复读取内部Flash固定数据并计算CRC，区分是真正的数据内容错误，还是取指或总线访问异常，外部NOR Flash则建议单独降低FMC时钟、增加读写等待周期，并检查信号完整性和供电
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